天眼查显示，上海积塔半导体有限公司“失效测试电路及方法”专利公布，申请公布日为2025年3月14日，申请公布号为CN119619786A。
本发明提供一种失效测试电路及方法，失效测试电路包括：串联的待测器件及保护模块；其中，当待测器件发生二次击穿时，保护模块用于减小电流热效应对待测器件的影响，以保护失效位置的形貌。本发明可以使得加大电压或电流的步长更大，在保护待测器件的前提下可以更快到达测试需要达到的电压电流条件，同时，在发生二次击穿后可以更快的做出反应来断开电路，兼顾效率和准确性，实现对失效位置形貌的保护，且简单易操作，可以在一定程度减少cycle time，提高产出。
